Sigma系列扫描电子显微镜
蔡司Sigma系列产品集场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）技术与良好的用户体验于一体，助您轻松实现构建成像和分析程序，同时提高工作效率。您可以将其用于新材料和颗粒的质量监测，或研究生物和地质样本。Sigma可实现高分辨率成像，它采用低电压，能在1 kV或更低电压下实现更高的分辨率和对比度。它出色的EDS几何学设计可执行高级显微分析，以两倍的速度和更高的精度获取分析数据。
Sigma 360
分析测试平台的理想之选，直观的图像采集
- 从设置到获取基于人工智能的结果，均提供专业向导，为您保驾护航，助您探索直观成像工作流。
- 可在1 kV和更低电压下分辨差异，实现更高的分辨率和对比度。
- 可在极端条件下执行可变压力成像，获得出色的非导体成像结果。
Sigma 560
高通量分析，原位实验自动化
- 对实体样品进行高效分析：基于SEM的高速和通用分析。
- 实现原位实验自动化：无人值守测试的全集成实验室。
- 可在低于1 kV的条件下完成要求苛刻的样品成像：采集完整的样品信息。